Главная >  Распространение электромагнитных волн 

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 [ 39 ] 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162 163 164 165 166 167 168 169 170 171 172 173 174 175 176 177 178 179 180 181 182 183 184 185 186

где использовано выражение для телесного угла антенны

dO = sin Д&д . (4. 19)

Как мы видели, однако, о(т;) зависит от iV и TJT, поэтому кроме (4.18) необходимо еще одно соотношение для определения- обеих этих величин. Можно независимо определять TJT. по профилю спектра принимаемого излучения в результате его сравнения с теоретическими спектрами о, рассчитанными для заданных условий (см. рис. 4.8) [331J. Однако вследствие влияния многокомпонентности плазмы на это затрудняет соответствующий анализ (см. рис. 4.9). Поэтому в ряде опытов [333] независимо определялась электронная концентрация по результатам измерений разности фаз обыкновенной и необыкновенной волп принимаемого излучения рассеянндлх волн. Для этого излучались одновременно две круглополяризованные в различных направлениях волны и измерялась зависимость разности фаз Д<1) с высотой между принимаемыми одновременно волнами для дискретных интервалов высоты. Так определяется электронная концентрация

[см. (2.68)]. В комбинации с формулами (4.18) и (4. 7)-(4.12) получают отношение TJT и Л.

Дальнейшее сравнение спектров принимаемого излучения с теоретическими спектрами для заданных значений ТJT и \12-kT) определяет независимо состав плазмы (сорт ионов), температуры Т и Т (по максимумам в ионной и электронной частях спектра) и процентное содержание концентрации ионов различного сорта. При этом из экспериментальных данных пепосред-ственно определяется не а а автокоррелятивные функции амплитуды принимаемых сигналов E{t)E* (i-f-i), фурье-преобразование которой и есть энергетический спектр принимаемого излучения [333].

Полная программа соответствующей обработки экспериментальных данных требует выполнения очень большого объема вычислительных работ с помощью ЭВМ, особенно для плазмы, состоящей из трех сортов ионов (Oi, Не и Н).

Эксперименты, использующие описанные методы, дали очень большую информацию об ионосфере. Получены данные, характеризующие высотные свойства электронной концентрации и температуры, суточные их характеристики, соответствующие зависимости коэффициентов рекомбинации и т. п. [330-335]. Для иллюстрации мы приведем здесь некоторые результаты этих опытов. Высотные зависимости электронной концентрации, полученные методом некогерентного рассеяния радиоволн вплоть до высот в 6-8 тыс. км показаны на рис. 4.11-4.13 [330-333].

Серия кривых Л(г), представленная на рис. 4.11, снята с интервалами 0,5-1,5 часа ночью и показывает, как изменяется во внешней ионосфере

- характеристика направленности; фф - эффективная площадь антенны. Принимаемая же интенсивность, рассеиваемая объемом dV при использовании одноЁ и той же антенны для приема и излучения, равна

W, = o{)r dO,. (4.17)

В итоге

о (к) ~-2С-17Г t ( * Щ



800 I

-1 1 t 1-LL

1 1 1 1 1 1 1 1 1

Электронная концентраций

UQOO

zooo

Ч \\

(III

1 1 It

Зпектронная концентрация

Рис. 4.11. Высотные зависимости N (г), полученные методом некогерентного iiaccen-НИН радповодн ночью до высот z:=t:1600 км

Рис. 4.12. Высотные зависимости N (z), полученные методом некогерентного рассеяния радиоволн до высот z 7000 ~ 8000 км

3000

i 500

300 ZOO

- - Ч i - -

-------

-----

\ -- -

>;

1

\

s [\\

\\ l\ \

\ \ \\-

-

4 f/

Рис. 4.13. Высотные зависимости N (г), полученные методом некогерентного рассеяния радиоволн в различное время суток, и среднее их значение



37(к


Птношение

1/25

о

-спор

Злектронная нонцвнтрацыя,слг

Миллспюн XujwlD8.D0-iu.00}. Август 13635


600 WOO WOO WOO 2200 2000 2000

Г --

00.00-iS.UOi Сентябрь 1963г


Рис. 4.14. Высотные завися-мости TV (z) нижней ионосферы, полученные методом }1екоге-рентного рассеяния радиоволн

Рис. 4.15. Высотная зависимость нижней части ионосферы, полученная методом некогерентного рассеяния радиоволн

Виден слорадичеС1>ий слой Еаю

Рис. 4.16. Высотные зависимости Т, Ti и TjTi, полученные методом некогерентного рассеяния радиоволн

сио 1000 тоо

1800 ггоо гооо зооо т-

высота главного максимума NF2. Выше 800-1000 км зависимости N{z) почти неизменны. На рис. 4.12 зависимости N(Jz) получены до высот Z 7000-1-8000 км примерно для одного и того же времени днем последовательно три дня подряд. На рис. 4.13 серия кривых А (z) снята в течение суток. В левой части дан среднесуточный ход iV (z).

Метод некогерентного рассеяния радиволн используется также для исследования нижней части ионосферы. Так, на рис. 4.14 и 4.15 показаны зависимости IS (z), полученные в соответствуюш.их опытах, начиная с высот Z 75-г80 кж. На рис. 4.15 1349] приводятся кривые УУ(2), при снятии которых наблюдался слой с.шр па рис. 4.14 [3501 показана зависимость 7V(2) всей нижней части ионосферы.

Примеры.- среднего высотного хода температур и и их отношения TJT. показаны на рис. 4.16 [3321. В области максимума NF2 отношение



1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 [ 39 ] 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162 163 164 165 166 167 168 169 170 171 172 173 174 175 176 177 178 179 180 181 182 183 184 185 186