2{\-v)~ uli ± Vutf + 4 {1 - иуг

(И. 18)

теш

= щ sin 6; cos 6;

б - угол между направлением нормали к фронту волны и вектором магнитного поля Земли.

Д5 /.? ZM

Частота Мгц

?3

Р -ЯШ)

I

0 25

.......I...............

1..............

; ZDO-

oossj-

г

. .ОиЛ... \..JLljJj.lJjJ .....L.%j..,fli,......:u .

Рис. 11.1. Высотно-частотные характеристики z (to)

а - полученные ночью; б - полученные днем; е и г - спсцаалъпыс бланки, на которые перерисованы 8ТИ характеристики; д - полученные на их основе с помощью ЭВМ высотные профили N (z> [5371

Следует иметь в виду, что табулирование (11.7) необходимо проводить для конкретных значений напряженности мапштного поля и наклонения, т. е. для каждого пункта наблюдений в отдельности.

Современные образцы профилей N (z), получаемых нри инверсии характеристик г (о)) с помощью ЭБМ, показаны на рис. 11.1 [537]. Видно, что осциллограммы z (ш) первоначально переносятся иа специальные бланки, на которых значения частоты откладываются в логарифмическом масштабе (рис. 11.1, в, г), что связано со способом математических расчетов. На основе этих бланков специальная программа на ЭВМ дает на выходе профили N (z), также построенные в логарифмическом масштабе относительно N (рие. 11.1, д)

На рис. 11.2 и 11.3 приводится ряд примеров, иллюстрирующих характер получаемых кривых N (z) для различного типа высотно-частотных характеристик z (w). Ранее уже отмечалось, что точность положения отдельных отрезков кривой N (z) по оси Z зависит от того, насколько удовлетворителен способ определения начальной высоты [формула (11. 3)1, от аппроксимации N (г) в области разрыва характеристик г (w) и от перепада высот, получаемого при переходе от конца одного участка кривой г (to) к началу другого.

Ошибки по высоте, которые получаются в результате неопределенности этих величин, составляют иногда лишь несколько километров (см., например, рис. 2.20 на стр. 74), однако в ряде случаев особенно почью эти погрешности заметно возрастают. Так, погрешности в определении начала Zq области F2 изменяются часто в пределах tZoFl 30-80 км, тогда как погрешности в оп-

iWO

\ 0\.....

0,5 1М . г,о

1 . t I ГМ I (111

La. l,UilLJJUL ,iJ....l

3 5 о- 1 8 9fO IZ VI

Рис. 11.1 (продолжение).

рв]1(дпвшш. высоты ее максимума колеблются в пределах hzF2 5-10 км. Для области Е погрешности в определении высотных профилей достигают Az {N)E 5-20 км.

Высотные профили N (z) для различных пунктов наблюдений, получаемые с помощ,ью ЭВМ, подвергаются дальнейшей обработке с использованием вычислительных устройств различного типа для определения географического распределения различных параметров ионосферы, что предусматривается общей программой обработки исходных данных.

На рис. 11.4 показан образец бланка осредненного широтпо-высотного распределения электронной концентрации, который печатается непосредственно на выходе вычислительного устройства при обработке соответствующей совокупности профилей N (z). Цифрами на картах (вместо точек) обозначают порядок значения электронной концентрации Л . Звездочками обозначают высоты максимума z, области F2. Карты подобного типа определяют, таким образом, изменчивость высотной электронной концентрации с широтой 1545].

Расчет без учета магнитного поля Земли. Рассмотрим теперь более простые методы обработки характеристик z(o)), позволяющие довольно точно получать кривые N (z) по характеристике z( ш) обыкновенной волны. Эти способы успешно используются часто для ряда исследований ионосферы [98], причем

Частота, мец 0Z it 6 8 to IZ

12/7/?

1,5 . Zfi

ог It 6

Частота. Мгц 8 W /2

%800

UDO Co

Рис. 11.2. Зависимости электронной концентрации от высоты, полученные при обработке высотно-частотных характеристик z* (ш)

Рис. 11.3. Зависимость электронной концентрации от высоты в случае более реако выраженной области Fi